產品分類
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計®離線型 可以檢查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地進行全面測量 膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持 分光測量進行高精度的膜厚測量 硬件和軟件均為原創設計
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計®在線型 采用線掃描方式實現了全面無“漏”的膜檢查。 膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持 高速?高精度地測量成為可能 采用抗晃動的光學系統 幅広的樣本（在TD方向上可測量最大10米） 硬件和軟件均為原創設計
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD 這是從紫外線到近紅外區域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內可以進行分光光譜測量。通過標準裝置的光纖，可以在不特定樣品種類的情況下，對應各種測量系統。從顯微分光、光源發光、透過反射測量開始，通過軟件組合，還可以對應物體顏色評價、膜厚測量等。
日本OTSUKA大塚智能膜厚儀 SM-100系列 「便攜式手提類型」1.1公斤，輕便易攜帶 「高精度測量＆簡單測量」最薄0.1 μm直到可以測量而無需刻度線 「多層膜也支持」可測量三層及以下的多層膜 「非破壞?非接觸測量」不會傷害樣品也能進行測量 「 ???サンプルを測定」基材（玻璃?塑料）を選ばず測定可能
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計FE-300F系列 這是一款通過高精度的光干涉法進行膜厚測量的小型且價格低廉的膜厚計，實現了簡單操作。 我們采用了將所需設備集成在主機內的多功能型結構，從而實現了穩定的數據獲取。 盡管價格低廉，但通過獲取絕對反射率，也能夠進行光學常數的解析。
當前位置：
