產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-07-05
廠商性質(zhì)：代理商
訪 問 量 ：476
028-68749778
產(chǎn)品分類
| 品牌 | AND/日本愛安德 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
日本And艾安德非接觸式靜電測量儀 AD-1684A
本設備突破傳統(tǒng)接觸式測量局限，采用三重平面感應陣列技術，實現(xiàn)0.1-50mm非接觸檢測距離可調(diào)。關鍵創(chuàng)新包括：
智能距離補償系統(tǒng)：通過激光輔助定位自動校正測量距離誤差（±0.5mm精度）
雙模式檢測：
靜電場模式：±0.01kV~±20kV量程（分辨率0.001kV）
離子平衡模式：±200V范圍（符合ANSI/ESD S3.1標準）
工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)接口：支持Modbus RTU協(xié)議，可接入MES系統(tǒng)實現(xiàn)數(shù)據(jù)追溯
經(jīng)日本電子計測協(xié)會（JEMIMA）認證：
響應時間：0.3秒（90%量程）
溫度漂移：±0.005%/℃（5-35℃環(huán)境）
長期穩(wěn)定性：±1%/年（標準校準周期）
抗干擾能力：在30kV/m電磁場中誤差<3%
半導體制造
在12英寸晶圓檢測中：
識別0.5μm線路的靜電分布梯度
與接觸式測量儀對比誤差<±2%
醫(yī)療包裝
完成FDA 21 CFR Part 11合規(guī)驗證：
西林瓶表面電位映射（100點/分鐘）
數(shù)據(jù)完整性通過ALCOA+原則審計
科研領域
與AND GF-3000天平聯(lián)用：
實現(xiàn)μg級樣品的靜電-質(zhì)量耦合分析
發(fā)表3篇SCI收錄論文
提供NIST可追溯校準證書
可選配自動掃描支架（行程精度±0.1mm）
中國區(qū)技術中心配備Class 1000級校準實驗室
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