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光學(xué)儀器
日本AITEC艾泰克
AITEC艾泰克擴(kuò)散光照拱型照射光源LLDEB

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-07-07
廠商性質(zhì):代理商
訪 問 量 :403
028-68749778
產(chǎn)品分類
| 品牌 | AITEC/艾泰克 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 照射方式 | 外照式 | 光源種類 | 紅外光源 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
AITEC艾泰克擴(kuò)散光照拱型照射光源LLDEB

AITEC艾泰克擴(kuò)散光照拱型照射光源LLDEB
AITEC艾泰克LLDEB系列采用突破性的二次散射變換處理技術(shù),通過精密光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)92%以上的照度均勻性。其拱型光源開口寬度覆蓋100-1000mm(支持模塊化拼接),內(nèi)置納米級(jí)擴(kuò)散膜與雙層導(dǎo)光層,可有效消除高反光材料(如金屬、玻璃)的鏡面反射干擾。產(chǎn)品集成自然散熱系統(tǒng),在無(wú)塵車間環(huán)境下連續(xù)工作溫升≤12℃,IP67防護(hù)等級(jí)確保在油污、粉塵環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行30,000小時(shí)。
控制兼容性:支持EtherCAT總線協(xié)議,與工業(yè)相機(jī)實(shí)現(xiàn)μs級(jí)同步觸發(fā),響應(yīng)時(shí)間<0.1ms
波長(zhǎng)定制化:可選配365nm(UV缺陷檢測(cè))、850nm(IR透射成像)等特殊波段
AI光控系統(tǒng)(可選):通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)光強(qiáng)參數(shù),適應(yīng)不同材質(zhì)與檢測(cè)速度需求
半導(dǎo)體封裝:在某封測(cè)企業(yè)QFN產(chǎn)線中,使焊點(diǎn)虛焊識(shí)別率提升至99.2%,較傳統(tǒng)光源降低65%誤判
新能源極片:配合120m/min高速產(chǎn)線,實(shí)現(xiàn)±0.03mm的涂布缺陷定位精度
汽車零部件:通過多角度補(bǔ)償照明,完成曲面零件三維重建(誤差<5μm)
已建立48小時(shí)快速響應(yīng)機(jī)制,提供光學(xué)模擬→產(chǎn)線調(diào)優(yōu)的全流程支持。2024年累計(jì)交付量突破800臺(tái),成功應(yīng)用于京東方面板檢測(cè)、寧德時(shí)代極片質(zhì)檢等項(xiàng)目,成為進(jìn)口替代方案。最新迭代版本融合邊緣計(jì)算能力,進(jìn)一步強(qiáng)化復(fù)雜工況下的成像一致性。
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