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產(chǎn)品展示檢測(cè)儀器HIOKI/日本日置日本HIOKI日置 飛針測(cè)試機(jī)FA1823 西南供應(yīng)
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2026-03-13
廠商性質(zhì)：代理商
訪 問(wèn) 量 ：263
028-68749778
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本HIOKI日置 飛針測(cè)試機(jī)FA1823 西南供應(yīng)
日本HIOKI日置 飛針測(cè)試機(jī)FA1823 西南供應(yīng)
HIOKI日置飛針測(cè)試機(jī)FA1823是一款專為IC封裝基板檢測(cè)設(shè)計(jì)的高精度設(shè)備，尤其適用于微細(xì)焊盤的電氣性能測(cè)試。其核心優(yōu)勢(shì)在于實(shí)現(xiàn)了對(duì)直徑僅φ19μm焊盤的高精度檢測(cè)，并在該尺寸焊盤上應(yīng)用了4端子低電阻測(cè)量（開(kāi)爾文測(cè)量）技術(shù)，顯著提升了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。
FA1823具備*的測(cè)試功能，支持直流定電流導(dǎo)通測(cè)試、直流定電流電阻測(cè)試、直流定電壓電阻測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、低電壓絕緣電阻測(cè)試、交流定電壓電容測(cè)試、漏電流測(cè)試、高壓電阻測(cè)試、電容器絕緣測(cè)試、開(kāi)路測(cè)試、短路測(cè)試、LSI連接測(cè)試等多種測(cè)試項(xiàng)目。其測(cè)試范圍廣泛，電阻測(cè)量可覆蓋40.00μΩ至400.0kΩ，絕緣電阻測(cè)試可達(dá)100.0GΩ，滿足了對(duì)高密度封裝基板嚴(yán)格的質(zhì)量控制需求。
在測(cè)試速度方面，F(xiàn)A1823同樣表現(xiàn)出色。其測(cè)試速度可達(dá)76點(diǎn)/秒（0.15mm移動(dòng)，4手臂同時(shí)探測(cè)，電容法測(cè)試時(shí)），顯著提高了生產(chǎn)效率。同時(shí)，設(shè)備支持999,999步的測(cè)試程序，可應(yīng)對(duì)復(fù)雜基板的測(cè)試需求。
FA1823還注重測(cè)試的穩(wěn)定性和耐用性。其探針采用特殊材料制成，經(jīng)久耐用，且支持多種探針型號(hào)，如1172系列、CP1072系列、CP1073系列等，以適應(yīng)不同尺寸和形狀的焊盤測(cè)試。此外，設(shè)備還配備了位置補(bǔ)償相機(jī)和鐳射基板厚度補(bǔ)償功能，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
在應(yīng)用領(lǐng)域方面，F(xiàn)A1823廣泛應(yīng)用于IC封裝基板生產(chǎn)線上的檢測(cè)，可大幅提升檢測(cè)良率和長(zhǎng)期品質(zhì)管理。其高精度和多功能性也使其成為研發(fā)、質(zhì)量管理和制造現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)工具。
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