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日本OTSUKA大塚西南代理分光膜厚計OPTM(オプティム)是利用顯微分光進行微小區域絕對反射率測量的裝置，能夠實現高精度的膜厚和光學常數解析。 可以非破壞性、非接觸性地測量各種薄膜、晶圓、光學材料等的涂層膜厚度或多層膜。測量時間可以達到每點1秒的高速測量。此外，還配備了即使初次使用也能輕松進行光學常數解析的軟件。

日本OTSUKA大塚西南代理光度計MCPD-6800是從紫外線到近紅外區域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內可以進行分光光譜測量。通過標準裝置的光纖，可以在不特定樣品種類的情況下，對應各種測量系統。從顯微分光、光源發光、透過反射測量開始，通過軟件組合，還可以對應物體顏色評價、膜厚測量等。

日本OTSUKA大塚西南代理光度計MCPD-9800是從紫外線到近紅外區域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內可以進行分光光譜測量。通過標準裝置的光纖，可以在不特定樣品種類的情況下，對應各種測量系統。從顯微分光、光源發光、透過反射測量開始，通過軟件組合，還可以對應物體顏色評價、膜厚測量等。