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日本OTSUKA大塚西南代理嵌入式膜厚監(jiān)測(cè)器 分光干涉法膜厚計(jì) 搭載高精度FFT膜厚解析引擎 通過光學(xué)光纖可以構(gòu)建靈活的測(cè)量系統(tǒng) 可以嵌入各種制造裝置 實(shí)時(shí)膜厚測(cè)量成為可能 遠(yuǎn)距離操作、多點(diǎn)測(cè)量 采用長(zhǎng)壽命、高穩(wěn)定性的白色LED光源
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監(jiān)測(cè)儀SM-100高精度且便攜的膜厚計(jì) 「無法立即測(cè)量的“現(xiàn)場(chǎng)”」 「不同人測(cè)量結(jié)果不同」 「測(cè)量精度差」 在測(cè)量膜厚時(shí)，是否遇到過這些問題？智能膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn)，可以解決您的困擾。 ? 可以帶到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的便攜式設(shè)備 ? 簡(jiǎn)單所以任何人都能用 ? 即使是手持式也能進(jìn)行高精度測(cè)量 ? 有形狀的樣品也可以非破壞性地測(cè)量
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監(jiān)測(cè)儀FE-300F是一款通過高精度的光干涉法進(jìn)行膜厚測(cè)量的小型且價(jià)格低廉的膜厚計(jì)，實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單操作。 我們采用了將所需設(shè)備集成在主機(jī)內(nèi)的多功能型結(jié)構(gòu)，從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。 盡管價(jià)格低廉，但通過獲取絕對(duì)反射率，也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)的解析。
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計(jì)®離線型 可以檢查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地進(jìn)行全面測(cè)量 膜厚測(cè)量的專門制造商所提供的充實(shí)支持 分光測(cè)量進(jìn)行高精度的膜厚測(cè)量 硬件和軟件均為原創(chuàng)設(shè)計(jì)
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計(jì)®在線型 采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)了全面無“漏”的膜檢查。 膜厚測(cè)量的專門制造商所提供的充實(shí)支持 高速?高精度地測(cè)量成為可能 采用抗晃動(dòng)的光學(xué)系統(tǒng) 幅広的樣本（在TD方向上可測(cè)量最大10米） 硬件和軟件均為原創(chuàng)設(shè)計(jì)
日本OTSUKA大塚膜厚測(cè)定多通道分光器MCPD 這是從紫外線到近紅外區(qū)域的多功能多通道分光檢測(cè)器。最短5毫秒內(nèi)可以進(jìn)行分光光譜測(cè)量。通過標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖，可以在不特定樣品種類的情況下，對(duì)應(yīng)各種測(cè)量系統(tǒng)。從顯微分光、光源發(fā)光、透過反射測(cè)量開始，通過軟件組合，還可以對(duì)應(yīng)物體顏色評(píng)價(jià)、膜厚測(cè)量等。
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